电子器件冲击冷热可靠性测试方法

2023/07/05 13:07 I 阅读:79

应用领域

电子/电气

检测样品

电子元器件产品

检测项目

电子器件冲击冷热可靠性测试

参考标准

GJB360.1-87

发布时间

2023/07/05

方案详情

高低温冷热冲击试验箱确定元件曝露于高低温极值下,以及高低温极值交替冲击下所具有的抗御能力。试验样品的失效数应以后检测为依据。

产品配置单

前处理设备

二氧化碳试验箱

型号:CO2-SYX

品牌:荣计达仪器

产地:上海

留言咨询

下载方案

电子器件冲击冷热试验方法.doc

免费下载

相关解决方案

相关产品

返回顶部

联系我们:

客服电话:400-616-7676,1529

企业名称:上海荣计达仪器科技有限公司

企业地址:上海市闵行区浦江镇沈杜公路3259号 联系人:王林 邮编:201112

Copyright©2026     上海荣计达仪器科技有限公司    沪ICP备20007000号-3    技术支持:仪器信息网

400电话

400-616-7676转1529

留言咨询

返回顶部