电子产品PCT高压加速老化试验方法

2024/11/14 10:01 I 阅读:211

应用领域

电子/电气

检测样品

电子元器件产品

检测项目

电子产品PCT高压加速老化试验

参考标准

符合GB/T 2423.40等相关标准

发布时间

2024/11/14

方案详情

PCT(Pressure Cooker Test)高压加速老化试验主要用于评估电子产品在高温高湿环境下的可靠性。

产品配置单

前处理设备

HAST老化试验箱PCT高温高压加速老化试验箱

型号:HAST-400-1

品牌:荣计达仪器

产地:上海

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