电子元器件高温加速老化试验方法

2024/11/25 09:35 I 阅读:203

应用领域

电子/电气

检测样品

电子元器件产品

检测项目

电子元器件高温加速老化试验

参考标准

GB/T2423.40-1997

发布时间

2024/11/25

方案详情

通过提高温度应力,加速电子元器件的老化过程,在短时间内暴露其潜在缺陷,评估其在高温环境下的可靠性和稳定性,为产品的质量控制、筛选次品以及确定合理的质保期提供依据。

产品配置单

前处理设备

HAST老化试验箱

型号:HAST-400

品牌:荣计达仪器

产地:上海

留言咨询

下载方案

电子元器件高温加速老化试验方法.pdf

免费下载

相关解决方案

相关产品

返回顶部

联系我们:

客服电话:400-616-7676,1529

企业名称:上海荣计达仪器科技有限公司

企业地址:上海市闵行区浦江镇沈杜公路3259号 联系人:王林 邮编:201112

Copyright©2026     上海荣计达仪器科技有限公司    沪ICP备20007000号-3    技术支持:仪器信息网

400电话

400-616-7676转1529

留言咨询

返回顶部