2024/12/31 08:51 I 阅读:165
应用领域
电子/电气
检测样品
电子元器件产品
检测项目
评估电路板性能变化试验
参考标准
GB/T 2423.40
发布时间
2024/12/31
方案详情
随着电子产品在复杂环境下的应用日益广泛,电路板作为其核心组件,其在高温、高湿度环境下的可靠性备受关注。HAST(Highly Accelerated Stress Test)老化试验箱能够模拟环境条件,评估电路板的性能变化。
产品配置单
前处理设备
下载方案
HAST老化试验箱评估电路板性能变化试验方法.pdf
相关解决方案
相关产品