HAST 老化试验箱评估电路板性能变化试验方法

2024/12/31 08:51 I 阅读:165

应用领域

电子/电气

检测样品

电子元器件产品

检测项目

评估电路板性能变化试验

参考标准

GB/T 2423.40

发布时间

2024/12/31

方案详情

随着电子产品在复杂环境下的应用日益广泛,电路板作为其核心组件,其在高温、高湿度环境下的可靠性备受关注。HAST(Highly Accelerated Stress Test)老化试验箱能够模拟环境条件,评估电路板的性能变化。

产品配置单

前处理设备

HAST老化试验箱PCT高温高压加速老化试验箱

型号:HAST-400-1

品牌:荣计达仪器

产地:上海

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