2025/12/27 12:55 I 阅读:67
应用领域
电子/电气
检测样品
电子元器件产品
检测项目
电子元器件性能稳定性与耐久性
参考标准
GB/T 2423.3
发布时间
2025/12/27
方案详情
电子元器件的性能稳定性与耐久性直接影响整机设备的运行状态,在运输、存储及使用过程中,温湿度变化易引发元器件出现封装开裂、引脚氧化、绝缘下降、参数漂移等问题。采用小型恒温恒湿试验箱模拟不同温湿度环境,通过恒定湿热、温湿度循环两种典型模式,结合多节点检测,客观评估元器件在长期环境应力下的性能变化。
产品配置单
前处理设备
下载方案
小型恒温恒湿试验箱测试电子元器件性能稳定性与耐久性方法.pdf
相关解决方案
相关产品