半导体行业高低温老化性能测试方法

2023/07/14 08:59 I 阅读:372

应用领域

半导体

检测样品

电子元器件产品

检测项目

半导体行业高低温老化性能测试

参考标准

GB2423. 1-89、GB2423. 2-89、GB2423. 3-93

发布时间

2023/07/14

方案详情

高低温老化试验箱可以对半导体器件进行恒温高低温老化测试,以了解器件的性能随时间的变化情况。通过控制恒温高低温条件,使半导体器件长时间暴露在高低温、潮湿等极端环境下,从而反复检测其性能的变化趋势及寿命,以评估其质量和可靠性。

产品配置单

前处理设备

热老化试验箱电气绝缘材料耐热老化测试箱

型号:GWY-500L

品牌:荣计达仪器

产地:上海

留言咨询

非接触式混凝土收缩变形测定仪荣计达

型号:1通道、2通道、3通道

品牌:荣计达仪器

产地:上海

留言咨询

下载方案

半导体行业高低温老化性能测试方法.doc

免费下载

相关解决方案

相关产品

返回顶部

联系我们:

客服电话:400-616-7676,1529

企业名称:上海荣计达仪器科技有限公司

企业地址:上海市闵行区浦江镇沈杜公路3259号 联系人:王林 邮编:201112

Copyright©2026     上海荣计达仪器科技有限公司    沪ICP备20007000号-3    技术支持:仪器信息网

400电话

400-616-7676转1529

留言咨询

返回顶部