高压加速老化寿命箱测试半导体器件老化性能的方法

2025/06/12 09:02 I 阅读:115

应用领域

半导体

检测样品

半导体材料

检测项目

半导体器件老化性能

参考标准

GB/T2423.40-1997

发布时间

2025/06/12

方案详情

HAST高压加速老化试验箱主要用于模拟材料在高温、高压、高湿环境下性能运行可靠性的专用试验箱,老化箱内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,适用于国防材料、航天材料、电子零配件、半导体、线路板等行业。

产品配置单

前处理设备

HAST老化试验箱PCT高温高压加速老化试验箱

型号:HAST-400-1

品牌:荣计达仪器

产地:上海

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