半导体芯片冷热冲击试验方法高低温冲击试验箱

2023/08/19 12:43 I 阅读:294

应用领域

半导体

检测样品

特殊工艺

检测项目

半导体芯片冷热冲击试验

参考标准

JESD22-A104

发布时间

2023/08/19

方案详情

芯片在生产过程中,需要对其进行冷热冲击试验。一般情况下,民用芯片的正常工作温度范围是 0℃-70℃,其他芯片性能更高,正常工作温度范围是 -55℃-125℃。以上温度范围都是芯片工作下的温度范围,当芯片不工作时,可以承受超过 200℃ 的焊接温度。

产品配置单

前处理设备

高低温拉力试验箱材料力学性能测试设备

型号:GDW-90L

品牌:荣计达仪器

产地:上海

留言咨询

液槽冲击试验箱DTS2.0荣计达仪器

型号:DTS-2.0

品牌:荣计达仪器

产地:上海

留言咨询

下载方案

半导体芯片冷热冲击试验方法高低温冲击试验箱.doc

免费下载

相关解决方案

相关产品

返回顶部

联系我们:

客服电话:400-616-7676,1529

企业名称:上海荣计达仪器科技有限公司

企业地址:上海市闵行区浦江镇沈杜公路3259号 联系人:王林 邮编:201112

Copyright©2026     上海荣计达仪器科技有限公司    沪ICP备20007000号-3    技术支持:仪器信息网

400电话

400-616-7676转1529

留言咨询

返回顶部