2023/08/19 12:43 I 阅读:294
应用领域
半导体
检测样品
特殊工艺
检测项目
半导体芯片冷热冲击试验
参考标准
JESD22-A104
发布时间
2023/08/19
方案详情
芯片在生产过程中,需要对其进行冷热冲击试验。一般情况下,民用芯片的正常工作温度范围是 0℃-70℃,其他芯片性能更高,正常工作温度范围是 -55℃-125℃。以上温度范围都是芯片工作下的温度范围,当芯片不工作时,可以承受超过 200℃ 的焊接温度。
产品配置单
前处理设备
下载方案
半导体芯片冷热冲击试验方法高低温冲击试验箱.doc
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